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XUV光谱仪

XUV光谱仪

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商品描述
基于德国马普所Prof. Ferenc Krausz实验室多年来对于阿秒-飞秒泵浦探测实验的研究,现推出商业化XUV平场光谱仪,可覆盖1-80nm。完全电脑软件控制,适用于真空环境操作。

产品描述
基于德国马普所Prof. Ferenc Krausz实验室多年来对于阿秒-飞秒泵浦探测实验的研究,现推出商业化XUV平场光谱仪,可覆盖1-80nm。完全电脑软件控制,适用于真空环境操作。


产品特点
  • 光谱范围:5-80nm, 1-5nm可选项
  • 工作压强:<10-6 mbar
  • 探测器可选项:x-ray CCD-camera or MCP/fiber taper system
万花筒
  • 全部为定制产品;德国马普量子所(Max Planck Institute of Quantum Optics)科学家为您私人订制
  • 咨询我们索取相关公开发表的国内外验证和应用文献
  • 德国制造,供货商Ultrafast innovations(德国马普量子所附属公司)
产品参数

Wavelength [nm]*  5 to 20  10 to 60  25 to 80 
Operation Mode  entrance slit  slitless  slitless 
Source distance, m 0.4 to 0.6  0.5 to 1.5 
Flat-Field size,mm  25.4 50 50
Dispersion,nm/mm 0.5 to 0.7  0.7 to 1.1  0.9 to 1.3 
Resolution [nm]  ? 0.06  ? 0.09  ? 0.11 
*Wavelength range 1nm to 15nm with separate grating
**:Configurations for other source distances available

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